美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）于近日发布NI PXIe-5162数字化仪，并更新了LabVIEW抖动分析工具包。 该数字化仪带有10位垂直分辨率和5 GS/s采样率，它的高速测量垂直分辨率是传统8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162单个插槽中具备1.5 GHz的带宽和四个通道，适用于高通道数数字化仪系统的生产测试、研究和设备特性记述。工程师们因此可以结合使用LabVIEW与数字化仪，以及LabVIEW抖动分析工具包中专门为高吞吐量的抖动、眼图和相位噪声测量优化过的函数库，以满足自动化验证和生产测试环境所需。
 
NI PXIe-5162 特性
• 10位垂直分辨率，可更深入地解读信号
• 单个3U PXI Express插槽包含4个通道，在一个PXI机箱中可扩展至68个通道
• 一个通道上5 GS/s的最大采样率或同时使用四个通道，每通道1.25 GS/s采样率

LabVIEW抖动分析工具包特性
• 内置时钟恢复、眼图、抖动、电平和时域测量函数
• 眼图和掩膜测试的示例程序，以及使用双狄拉克(dual-Dirac)和基于频谱的分离方法，进行随机抖动和确定性抖动（RJ/ DJ）分离的示例程序